CIED患者:CHA2DS2-VASc评分如何影响卒中和SSE风险?
2019年11月,美国学者发表在《Circulation》的一项研究,考察了卒中风险与房颤(AF)持续时间和CHA2DS2-VASc评分的相关性。
背景:具有心血管植入式电子设备(CIED)的患者的研究表明,AF持续时间和卒中风险之间存在相关性,但是与CHA2DS2-VASc的相互作用理解不佳。本研究旨在评估CHA2DS2-VASc评分和AF持续时间对CIED患者卒中和全身性栓塞(SSE)发生率的影响。
方法:Optum电子健康记录去识别化数据库(2007~2017)的数据与能连续进行AF监测的CIED的Medtronic CareLink数据库相连。指数日期指定为设备植入后6个月或获取电子健康记录数据后1年。在指数日期之前使用电子健康记录数据评估CHA2DS2-VASc得分。在指数日期前的6个月,评估最大每日AF负担(无AF,6 min~23.5h以及>23.5h)。指数日期后计算SSE发生率。
结果:在21768名非抗凝CIED患者(68.6±12.7岁,男性63%)中,AF持续时间延长(P<0.001)和CHA2DS2-VASc评分增加(P<0.001)均与SSE年风险显著相关。CHA2DS2-VASc评分为0~1的患者的SSE发生率较低,而无论使用设备检测到的AF持续时间如何。但是,CHA2DS2-VASc评分为2且AF>23.5h的患者,CHA2DS2-VASc评分为3~4且AF>6min的患者和CHA2DS2-VASc评分≥5即使无AF的患者,其卒中风险都超过了定义为>1%/年的可行阈值。
结论:AF持续时间与CHA2DS2-VASc评分之间存在相互作用,这可进一步将AF患者的SSE进行风险分层,并有助于指导抗凝治疗。
http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/31564126
(选题审校:闫盈盈 编辑:王淳)
(本文由北京大学第三医院药剂科翟所迪教授及其团队选题并审校,环球医学资讯编辑完成。)
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